除雜PCB制程中若出現雜質(zhì)或殘銅，清潔處理不當后，將金屬鹽類(lèi)殘留在板面上。一旦吸潮或分層吸濕，便會(huì )形成CAF問(wèn)題。因此需調整參數避免殘銅，同時(shí)改進(jìn)清洗方法并充分清潔。評估CAF的方法：離子遷移評價(jià)通常使用梳型電路板為試料，將成對的電極交錯連接成梳形圖案，在高溫高濕的條件下給予一固定之直流電壓，經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間之測試，并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路之現象。針對CAF引起的失效現象，一般采用的方法是逐步縮小范圍的方法；失效樣品先測試電阻》》用顯微鏡觀(guān)察，找出大概失效的位置》》退掉表面的綠油》》再觀(guān)察具體的位置》》磨切片觀(guān)察失效發(fā)生的原因選擇智能電阻時(shí)，用戶(hù)需要根據具體需求考慮精度、穩定性、接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品。東莞離子遷移電阻測試
電阻測試5.1.硬件連接與操作步驟1)事先準備好要求測試的PCB樣品，接好測試線(xiàn)，插入相對應的航空座。2)把納伏表和可編程電源安裝好，連接儀器與計算機通信線(xiàn)。3)接好機柜電源，并檢查儀器是否有錯誤提示，如有提示需先按照儀器說(shuō)明把錯誤提示排除。4)根據軟件操作設置開(kāi)始測試流程。注意：※在測試的過(guò)程禁止觸摸被測物品?！箮щ姲尾鍦y試線(xiàn)的航空頭?！缧柙O備檢修必須把電斷開(kāi)。本系統只提供自有版權的導通電阻實(shí)時(shí)監控測試操作軟件，Windows操作系統、MS-office軟件及相關(guān)數據庫由客戶(hù)自行購買(mǎi)*該系統可根據客戶(hù)的不同需求，定制特殊要求以實(shí)現更多功能浙江pcb板電阻測試設備智能電阻能夠提供更加便捷和精確的電阻測試。
表面絕緣電阻（SIR）測試是通過(guò)在高溫高濕的環(huán)境中持續給予PCB一定的偏壓，經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的試驗，觀(guān)察線(xiàn)路間是否有瞬間短路或出現絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻（SIR）測試可以用來(lái)評估金屬導體之間短路或者電流泄露造成的問(wèn)題，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會(huì )影響電子零件電氣特性的物質(zhì)，通過(guò)表面絕緣電阻（SIR）測試數據可以直接反映PCB的清潔度。當PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí)，在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場(chǎng)和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)（陰極向陽(yáng)極轉移），相對的電極還原成本來(lái)的金屬并析出樹(shù)枝狀金屬的現象（類(lèi)似錫須，容易造成短路），這種現象稱(chēng)為離子遷移。當存在這種現象時(shí)，表面絕緣電阻（SIR）測試可以通過(guò)電阻值顯現出來(lái)。
離子遷移絕緣電阻測試廣泛應用于電子產(chǎn)品制造和質(zhì)量控制過(guò)程中。它可以用于檢測電子元器件、印刷電路板、電子設備外殼等材料的質(zhì)量。通過(guò)測試，可以及時(shí)發(fā)現材料中的離子遷移問(wèn)題和絕緣電阻異常，從而采取相應的措施進(jìn)行修復或更換，確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。離子遷移絕緣電阻測試的方法主要包括濕度試驗、電壓加速試驗和絕緣電阻測量。濕度試驗是將材料置于高濕度環(huán)境中，通過(guò)觀(guān)察離子遷移現象來(lái)評估材料的質(zhì)量。電壓加速試驗是在高電壓條件下進(jìn)行離子遷移測試，以加速離子遷移速率，從而更快地評估材料的質(zhì)量。絕緣電阻測量是通過(guò)測量材料的絕緣電阻值來(lái)評估材料的絕緣性能。在電子設備領(lǐng)域，表面阻抗測試SIR測試被認為是評估用戶(hù)線(xiàn)路板組裝材料可靠性的有效評估手段。
離子遷移（ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從材料方面：樹(shù)脂與玻纖紗束之間結合力不足；解決方案：優(yōu)化CCL制作參數；選擇抗分層的材料;填充空洞或樹(shù)脂奶油層不足；解決方案：優(yōu)化CCL制作參數；選擇抗分層的材料;樹(shù)脂吸溫性差；解決方案：膠片與基板中的硬化劑由Dicy改為PN以減少吸水；樹(shù)脂與玻纖清潔度差（含離子成份）；解決方案：使用Anti-CAF的材料；銅箔銅芽較長(cháng)，易造成離子遷移；解決方案：選用Lowprofilecopperfoil；多大在電子設備制造和維修過(guò)程中，電阻測試是非常重要的一環(huán)。廣西離子遷移電阻測試方法
離子在單位強度(V/m)電場(chǎng)作用下的移動(dòng)速度稱(chēng)之為離子遷移率，它是分辨被測離子直徑大小的一個(gè)重要參數。東莞離子遷移電阻測試
Sir電阻測試可以應用于各種不同的電路中。無(wú)論是簡(jiǎn)單的電路還是復雜的電路，都可以使用Sir電阻測試來(lái)測量電阻值。這種測試方法不僅適用于實(shí)驗室環(huán)境，也適用于工業(yè)生產(chǎn)中。在工業(yè)生產(chǎn)中，Sir電阻測試可以用來(lái)檢測電路中的故障，提高生產(chǎn)效率。除了測量電阻值，Sir電阻測試還可以用來(lái)檢測電路中的其他問(wèn)題。例如，它可以用來(lái)檢測電路中的短路和斷路。通過(guò)測量電磁場(chǎng)的變化，可以判斷電路中是否存在短路或斷路問(wèn)題。這種測試方法可以幫助工程師快速定位電路中的問(wèn)題，并進(jìn)行修復。東莞離子遷移電阻測試